Сбор средств 15 Сентября 2024 – 1 Октября 2024
О сборе средств
поиск книг
книги
Сбор средств:
71.6% достигнуто
Войти
Войти
авторизованным пользователям доступны:
персональные рекомендации
Telegram бот
история скачиваний
отправить на Email или Kindle
управление подборками
сохранение в избранное
Личное
Запросы книг
Изучение
Z-Recommend
Подборки книг
Самые популярные
Категории
Участие
Поддержать
Загрузки
Litera Library
Пожертвовать бумажные книги
Добавить бумажные книги
Search paper books
Мой LITERA Point
Поиск ключевых слов
Main
Поиск ключевых слов
search
1
Структурная обусловленность свойств. Часть IV. Кристаллохимия материалов нелинейной оптики. Кристаллохимия пьезоэлектриков. Кристаллохимия ювелирных кристаллов. Учебное пособие
МИТХТ.
Кузьмичева Г.М.
кристаллов
bo3
рис
позиции
структуры
кристаллы
ячейки
ионов
кристалла
r32
состава
иаг
хантита
окраски
цвета
элементарной
структуре
семейства
лангасита
cr3
твердых
цвет
la3ga4
симметрии
o14
атомы
катионов
соединений
y3al5o12
ионы
растворов
состав
la3ga5sio14
zr3
табл
зеленый
позиций
соединения
zr4
имеют
получения
гранатов
зависимости
катиона
концентрации
образцов
поглощения
свойств
симметрия
красный
Год:
2004
Язык:
russian
Файл:
PDF, 1.48 MB
Ваши теги:
0
/
0
russian, 2004
2
Физика реального кристалла. Лабораторный практикум
ЭБС Лань
Диденко И.С.
,
Козлова Н.С.
,
Кугаенко О.М.
,
Петраков В.С.
микротвердости
индентора
кристаллов
измерения
рис
отпечатка
разрушения
материала
материалов
трещины
поверхности
поглощения
образца
измерений
напряжений
твердости
дислокаций
нагрузки
прочности
прибора
электропроводности
кристаллах
кристалла
деформации
твердость
индентор
определения
определяется
напряжения
температуры
хрупких
диагонали
зависимости
интенсивности
испытания
анизотропии
вакансий
виккерса
работе
трещин
коэффициент
мкм
пластической
сопротивления
дефектов
разрушение
виккерсу
образец
прибор
электропроводность
Год:
2013
Язык:
russian
Файл:
PDF, 1.74 MB
Ваши теги:
0
/
5.0
russian, 2013
3
Физика реального кристалла: Лабораторный практикум
ЭБС Лань
Диденко И.С.
,
Козлова Н.С.
,
Кугаенко О.М.
,
Петраков В.С.
микротвердости
индентора
кристаллов
измерения
рис
отпечатка
разрушения
материала
материалов
трещины
поверхности
поглощения
образца
измерений
напряжений
твердости
дислокаций
нагрузки
прочности
прибора
электропроводности
кристалла
кристаллах
деформации
твердость
индентор
определения
определяется
напряжения
температуры
хрупких
диагонали
зависимости
интенсивности
испытания
анизотропии
вакансий
виккерса
работе
трещин
коэффициент
мкм
пластической
сопротивления
дефектов
разрушение
виккерсу
образец
прибор
электропроводность
Год:
2013
Язык:
russian
Файл:
PDF, 1.83 MB
Ваши теги:
0
/
5.0
russian, 2013
4
Физика реального кристалла. Лабораторный практикум
Издательство "МИСИС"
Диденко И.С.
,
Козлова Н.С.
,
Кугаенко О.М.
,
Петраков В.С.
микротвердости
индентора
кристаллов
измерения
рис
отпечатка
разрушения
материала
материалов
трещины
поверхности
поглощения
образца
измерений
напряжений
твердости
дислокаций
нагрузки
прочности
прибора
электропроводности
кристаллах
кристалла
деформации
твердость
индентор
определения
определяется
напряжения
температуры
хрупких
диагонали
зависимости
интенсивности
испытания
анизотропии
вакансий
виккерса
работе
трещин
коэффициент
мкм
пластической
сопротивления
дефектов
разрушение
виккерсу
образец
прибор
электропроводность
Год:
2013
Язык:
russian
Файл:
PDF, 5.36 MB
Ваши теги:
0
/
0
russian, 2013
1
Перейдите по
этой ссылке
или найдите бота "@BotFather" в Telegram
2
Отправьте команду /newbot
3
Укажите имя для вашего бота
4
Укажите имя пользователя для бота
5
Скопируйте последнее сообщение от BotFather и вставьте его сюда
×
×